支架缺陷检测设备

        1.   产品介绍：

        通过视觉AI技术手段，高效且简单地检测支架而设计的解决方案。超高分辨率的图像和各种光学测量可完美地满足支架的检测要求，减少错误，降低质量控制的成本和检查时间。 让检测变得更快，更简单且更准确。

        2.   基本参数：

        详细描述：

        1) 亚微米级支架旋转定位

            ——通过专利的驱动技术实现支架的亚微米级旋转定位。

        2) 超高精度支架尺寸检测（按需开发）

            ——根据实际支架的3D结构，对关键尺寸通过视觉、同轴位移计等方法进行非接触测量，精度可达±2μm。

        3) 特殊高清的光学成像技术

            ——基于特殊的光照方式及超高清相机实现支架表面的清晰成像。最小可识别5μm大小缺陷。

        4) 优于操作员（岗位2年）的识别率

            ——基于AI技术+传统视觉的混合筛查方式，进行放混批检测、缺陷检测等，漏检率<0.1%(下道工序反馈统计口径)。

        5) 快速的检验效率

            ——以38mm长度支架为例：a）规格尺寸平均约2s（按需计算）  b）外表面缺陷检测约25s左右   c）内表面缺陷检测约25s左右（按需提供）。